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M. en C. Adriana Tejeda Cruz
M. en C. Adriana Tejeda Cruz
Técnico Académico Titular " B "  T.C.
PRIDE: " D "
Teléfono : (+52) (55) 56 22 46 48
Ubicación: Edificio B
Cubículo 004
Laboratorio LB-003

FORMACIÓN PROFESIONAL

  • Cursó sus estudios de  licenciatura  en la Facultad de Ciencias UNAM, obteniendo el grado de Física.

  • Durante sus estudios de posgrado, concursó y obtuvo una beca para realizar un intercambio académico
    en el extranjero, que reaizó en la Facultat de Geologia de la Universitat de Barcelona, España.

  • A su regreso a México obtuvo el grado de Maestra en Ciencia e Ingeniería de Materiales. Su formación profesional es en el área de Ciencia de Materiales, especializándose en el área
    de difracción de Rayos X.

ÁREAS Y/O TÉCNICAS DE ESPECIALIZACIÓN

  • Actualmente se desempeña como Técnico Académica de Tiempo Completo en IIM-UNAM y se encuentra a cargo del Laboratorio de Rayos X de este instituto.
  • Su labor se enfoca en el apoyo a la investigación, a la docencia,  a la capacitación especializada y actividades de difusión en el área de Difracción de Rayos X.

CURSOS, CAPACITACIONES, TALLERES (IMPARTIDOS Y/O ASISTIDOS)

  • "Introducción a la Difracción de Rayos X-Laboratorio"  (20 horas), IIM-UNAM.
  • "Difracción de Rayos X”, como parte curso de capacitación intersemestral Técnicas de Caracterización de recubrimientos,  Centro de Ingeniería de superficies y acabados FI- UNAM (6h).
  • "Materiales Cerámicos: Síntesis, caracterización y aplicaciones",  programa de cursos de actualización y capacitación del IIM-UNAM (10h).
  • "IImplantación del sistema de gestión de calidad para laboratorios NMX-EC-17025-IMNC-2006/ISO-17025:2005" (30h), IIM-UNAM
  • “International Workshop on structure-property relations in inorganic compounds” (22h), Universidad de Guadalajara
  • “Estadística  básica para el manejo de datos experimentales” (40h), IER-UNAM
  • “Refinamiento de estructuras cristalinas por el método Rietveld utilizando los códigos FULLPROF, TOPAS y BGMN” (85h), IF-UNAM

EQUIPOS CIENTÍFICO A SU CARGO

  • Difractómetro de polvos Siemens modelo D500, ánodo de  cobre, monocromador secundario de grafito y detector de centelleo. Con Software Diffrac –AT Siemens, versión 1 (1991),
  • Difractómetro de polvos Siemens modelo D5000, ánodo de  cobalto, monocromador secundario de grafito y detector de centelleo. Con Software Diffrac  Plus (2005) y Match! 3.0. Base de datos PDF-2 2018 ICDD.
  • Difractómetro de polvos Bruker AXS modelo D8 Advance, ánodo de  cobre y detector de centelleo. Con software  Diffrac  Plus (2005) y base de datos PDF-2 2004 ICDD.
  • Difractómetro de polvos Rigaku ULTIMA-IV, ánodo de  cobre,  detector de centelleo; con aditamento multi-propouse para polvos y películas delgadas. Geometrías  In-plane  y de enfoque (focusing).Con Software PDXL-2 (Versión 2).

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Circuito de la Investigación Científica
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