M. en C. Adriana Tejeda Cruz
Técnico Académico Titular " B " T.C.
PRIDE: " D "
PRIDE: " D "
Teléfono : (+52) (55) 56 22 46 48
Ubicación: Edificio B
Cubículo 004
Ubicación: Edificio B
Cubículo 004
Laboratorio LB-003
FORMACIÓN PROFESIONAL
- Cursó sus estudios de licenciatura en la Facultad de Ciencias UNAM, obteniendo el grado de Física.
- Durante sus estudios de posgrado, concursó y obtuvo una beca para realizar un intercambio académicoen el extranjero, que reaizó en la Facultat de Geologia de la Universitat de Barcelona, España.
- A su regreso a México obtuvo el grado de Maestra en Ciencia e Ingeniería de Materiales. Su formación profesional es en el área de Ciencia de Materiales, especializándose en el áreade difracción de Rayos X.
ÁREAS Y/O TÉCNICAS DE ESPECIALIZACIÓN
- Actualmente se desempeña como Técnico Académica de Tiempo Completo en IIM-UNAM y se encuentra a cargo del Laboratorio de Rayos X de este instituto.
- Su labor se enfoca en el apoyo a la investigación, a la docencia, a la capacitación especializada y actividades de difusión en el área de Difracción de Rayos X.
CURSOS, CAPACITACIONES, TALLERES (IMPARTIDOS Y/O ASISTIDOS)
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EQUIPOS CIENTÍFICO A SU CARGO
- Difractómetro de polvos Siemens modelo D500, ánodo de cobre, monocromador secundario de grafito y detector de centelleo. Con Software Diffrac –AT Siemens, versión 1 (1991),
- Difractómetro de polvos Siemens modelo D5000, ánodo de cobalto, monocromador secundario de grafito y detector de centelleo. Con Software Diffrac Plus (2005) y Match! 3.0. Base de datos PDF-2 2018 ICDD.
- Difractómetro de polvos Bruker AXS modelo D8 Advance, ánodo de cobre y detector de centelleo. Con software Diffrac Plus (2005) y base de datos PDF-2 2004 ICDD.
- Difractómetro de polvos Rigaku ULTIMA-IV, ánodo de cobre, detector de centelleo; con aditamento multi-propouse para polvos y películas delgadas. Geometrías In-plane y de enfoque (focusing).Con Software PDXL-2 (Versión 2).
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