SEM y EDS

Héctor Olivares / Arturo Vargas
Zeiss de Mexico / Oxford

Objetivo general:

Comprender los fundamentos teóricos y prácticos de la microscopia electrónica de barrido (SEM) y la espectroscopia por dispersión de rayos X (EDS), incluyendo los principios de funcionamiento, parámetros operativos (voltaje de aceleración, distancia de trabajo, spot size), generación de imagen (magnificación, resolución, contraste), tipos de fuentes de electrones, detectores, sistemas de vacío y presión variable, así como el procesamiento y análisis de espectros EDS, para aplicar estas técnicas de manera crítica en el análisis microestructural y composicional de muestras en ciencias de los materiales y ciencias de la vida, incluyendo enfoques de microscopia correlativa.

Temario:

Fundamentos de microscopía electrónica de barrido (SEM)

Principios de funcionamiento del SEM
Generación de imagen (magnificación, resolución y contraste)
Tipos de fuentes de electrones
Voltaje de aceleración, distancia de trabajo y spot size
Detectores (SE, BSE, VPSE, STEM, etc.)
Importancia del vacío y presión variable
Microscopía correlativa
Aplicaciones en ciencias de los materiales
Aplicaciones en ciencias de la vida

Fundamentos de EDS

Espectroscopía por Dispersión de Rayos-X (EDS)
Principios de funcionamiento y generación de rayos-x
Modo y parámetros de captación.
Análisis y Procesamiento de Espectros
Aplicaciones