Fís. Carlos Flores Morales

Formación profesional

  • Area Ingeneria Quimica

Áreas y/o técnicas de especialización

  • Microscopia Electrónica de Transmisión

  • Microscopia Electrónica de Barrido

  • Microscopia de Fuerza Atómica

  • Tecnicas de Preparacion de Muestras para Micoscopia Elctrónica

Equipo científico a su cargo

  • Microscopio Electrónico de Transmisión . Marca JEOL, Modelo JEM-1200 EX

  • Microscopio de Fuerza Atómica. Modelo .Marca JEOL, Modelo, JSPM-4210

  • Microscopio Electronico de Barrido. Marca JEOL, Modelo JCM-6000

  • Microscopio de Fuerza Atómica. Marca Nanosurf NaioAFM

Cursos, capacitaciones, talleres

  • Seminario impartido en el Centro de Investigaciones y de Estudios Avanzados (CINVESTAV) sobre Tecnicas de preparación de Muestras para MicoscopiaElectronicfa de Transmision.

  • Curso teorico practico sobre el manejo del Microscopio de Fuerza Atómica Impartido en el Instituto de Investigaciones en Materiales -UNAM

  • Curso teorico Practico sobre el manejo del Microscopia Electrónica de Transmisión Impartido en el Instituto de Investigaciones en Materiales-UNAM.

  • Curso teórico practico sobre el manejo del Microscopio Electrónico de Barrido impartido por JEOL de México.

  • Curso teórico practico sobre el manejo del Microscopio Electrónico de Transmisión impartido por JEOL de México.

  • Curso Parctico teorico sobre el manejo del Desbastador Iónico (Fucus Ion Beam, FIB) impartido por JEOL de México.

  • Tecnicas de Caracterización en Ciencia de Materiales y Biología impartido por Instituto Politécnico Nacional (IPN)

Técnico Académico Asociado ” C ” T.C.
PRIDE:“B”
Correo: kafo60@iim.unam.mx
Teléfono: (+52) (55) 56 22 46 43
Ubicación: Edificio B
Cubículo: 001