Fís. Lázaro Huerta Arcos

Formación profesional
  • Físico, Facultad de Ciencias, UNAM.

  • Doctorado en Ciencias e Ingeniería de Materiales (inconcluso), IIM-UNAM.

Áreas y/o técnicas de especialización
  • Superficies

  • Espectroscopia de Fotoelectrones por rayos X (XPS)

  • Espectroscopia de fotoelectroens por rayos UV (UPS)

  • Espectroscopia de Electrones Auger (AES)

  • Técnicas de Aceleradores de Partículas (RBS,PIXE, RNA)

Equipo científico a su cargo
  • Equipo de Análsis de Superficies PHI5000 Versa Probe II, Scanning XPS Microprobe, Physical Electronics.

  • Raman-Luminicent microscope, Rammics M532 and Olympus CX-41 microscope

Cursos, capacitaciones, talleres
  • Introducción a las Espectroscopias de Electrones (XPS, AES, UPS), Escuela de CEIM-IIM, UNAM, 2014.

  • Simulación de espectros XPS para la obtención de estados de oxidación, Universidad de Sonora (curso impartido, 2016)

  • Análisis de Superficies por Espectroscopias de Fotoelectrones XPS y UPS, UAM-Cuajimalpa (seminario Div. impartido, 2016)

  • Understanding Materials Surface Analysis by XPS and TOF-SIMS, Seminarios Marktek-PHI, CENAM, 2015

  • And Introduction to the SAXS Method, Anton Para México S.A. de C.V., 2016.

  • Undestanding Advanced Materials Using Surface Annalysis:XPS, Seminarios Intercovamex, CIDETEQ, 2016.

  • Surface and Nanoscale Analysis-TOF SIMS,XPS,NanoIR and AFM, Seminarios Intercovamex, BUAP, 2017

  • Spintronics: from Giant Magnetoresistance to Topological Insulators and Magnetic Skyrmions, F. Ciencias-UNAM, 2017