JEOL ARM200F
Microscopio Electrónico de Transmisión
JEOL ARM200F
MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE TRANSMISIÓN DE ALTA RESOLUCIÓN
Microscopio electrónico de transmisión de emisión de campo tipo Schottky con resolución atómica. Equipado con un Corrector de Aberración Esférica (Cs) CESCOR en modo STEM que permite obtener una ultra resolución de 80 picómetros. Las imágenes en modo de campo oscuro anular de alto ángulo (HAADF) permiten diferenciar la química elemental a través de la diferencia en contraste (contraste Z). Acoplado con un detector EDS Oxford AztecTEM, permite el análisis químico elemental de alta resolución.
El equipo permite:
- Observar la estructura atómica de los materiales.
- Determinar mediante técnicas de campo claro o campo oscuro anular, la distribución de columnas atómicas y átomos individuales.
- Realizar difracción de electrones de área selecta, nano-área y nano-difracción.
- Realizar Imágenes de difracción.
- Análisis de EDS para medir química elemental de manera semicuantitativa.
Características | |
Emisor | Emisión de campo Schottky ZrO/W |
Modos de imagen | TEM: BF, DF, SAED STEM: BF, HAADF, ABF |
Resolución | 0.08 Å (STEM) Cs-corrected 1.9 Å (Point, TEM) 1.0 Å (Lattice BF, TEM) |
Voltajes de aceleración | 200 y 80 keV |
Amplificación | 50 – 2,000,000 X (TEM) 20,000 – 150,000,000 (STEM) |
Detectores | SE / LABE In Lens SEI / BEI |
| Longitud de cámara | 80 – 2000 mm |
Movimiento del espécimen | 2 mm (X,Y); ± 0.1 mm (Z) |
Inclinación del espécimen | Hasta ±25° con portamuestras de doble inclinación |
Análisis químico elemental | Espectroscopia por energía dispersiva de rayos X (EDS) Oxford AztecTEM |