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Lázaro Huerta Arcos
Fís. Lázaro Huerta Arcos
Técnico Académico Titular " A "  T.C.
PRIDE: " D "
Teléfono : (+52) (55) 56 22 47 15
Ubicación: Edificio E
Cubículo 015
Laboratorio L-E-012

FORMACIÓN PROFESIONAL

  • Físico, Facultad de Ciencias, UNAM.
  • Doctorado en Ciencias e Ingeniería de Materiales (inconcluso), IIM-UNAM.

ÁREAS Y/O TÉCNICAS DE ESPECIALIZACIÓN

  • Superficies
  • Espectroscopia de Fotoelectrones por rayos X (XPS)
  • Espectroscopia de fotoelectroens por rayos UV (UPS)
  • Espectroscopia de Electrones Auger  (AES)
  • Técnicas de Aceleradores de Partículas (RBS,PIXE, RNA)

CURSOS, CAPACITACIONES, TALLERES (IMPARTIDOS Y/O ASISTIDOS)

  • Introducción a las Espectroscopias de Electrones (XPS, AES, UPS), Escuela de CEIM-IIM, UNAM, 2014.
  • Simulación de espectros XPS para la obtención de estados de oxidación, Universidad de Sonora (curso impartido, 2016)
  • Análisis de Superficies por Espectroscopias de Fotoelectrones XPS y UPS, UAM-Cuajimalpa (seminario Div. impartido, 2016)
  • Understanding Materials Surface Analysis by XPS and TOF-SIMS, Seminarios Marktek-PHI, CENAM, 2015
  • And Introduction to the SAXS Method, Anton Para México S.A. de C.V., 2016.
  • Undestanding Advanced Materials Using Surface Annalysis:XPS, Seminarios Intercovamex, CIDETEQ, 2016.
  • Surface and Nanoscale Analysis-TOF SIMS,XPS,NanoIR and AFM, Seminarios Intercovamex, BUAP, 2017
  • Spintronics: from Giant Magnetoresistance to Topological Insulators and Magnetic Skyrmions, F. Ciencias-UNAM, 2017

EQUIPOS CIENTÍFICO A SU CARGO

  • Equipo de Análsis de Superficies PHI5000 Versa Probe II, Scanning XPS Microprobe, Physical Electronics.
  • Raman-Luminicent microscope, Rammics M532 and Olympus CX-41 microscope


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