M. en C. Adriana Tejeda Cruz
Cursó sus estudios de licenciatura en la Facultad de Ciencias UNAM, obteniendo el grado de Física.
Durante sus estudios de posgrado, concursó y obtuvo una beca para realizar un intercambio académico en el extranjero, que reaizó en la Facultat de Geologia de la Universitat de Barcelona, España.
A su regreso a México obtuvo el grado de Maestra en Ciencia e Ingeniería de Materiales. Su formación profesional es en el área de Ciencia de Materiales, especializándose en el área de difracción de Rayos X.
Actualmente se desempeña como Técnico Académica de Tiempo Completo en IIM-UNAM y se encuentra a cargo del Laboratorio de Rayos X de este instituto.
Su labor se enfoca en el apoyo a la investigación, a la docencia, a la capacitación especializada y actividades de difusión en el área de Difracción de Rayos X.
Difractómetro de polvos Siemens modelo D500, ánodo de cobre, monocromador secundario de grafito y detector de centelleo. Con Software Diffrac –AT Siemens, versión 1 (1991),
Difractómetro de polvos Siemens modelo D5000, ánodo de cobalto, monocromador secundario de grafito y detector de centelleo. Con Software Diffrac Plus (2005) y Match! 3.0. Base de datos PDF-2 2018 ICDD.
Difractómetro de polvos Bruker AXS modelo D8 Advance, ánodo de cobre y detector de centelleo. Con software Diffrac Plus (2005) y base de datos PDF-2 2004 ICDD.
Difractómetro de polvos Rigaku ULTIMA-IV, ánodo de cobre, detector de centelleo; con aditamento multi-propouse para polvos y películas delgadas. Geometrías In-plane y de enfoque (focusing).Con Software PDXL-2 (Versión 2).
Cursos, capacitaciones, talleres
“Introducción a la Difracción de Rayos X-Laboratorio” (20 horas), IIM-UNAM.
“Difracción de Rayos X”, como parte curso de capacitación intersemestral Técnicas de Caracterización de recubrimientos, Centro de Ingeniería de superficies y acabados FI- UNAM (6h).
“Materiales Cerámicos: Síntesis, caracterización y aplicaciones”, programa de cursos de actualización y capacitación del IIM-UNAM (10h).
“IImplantación del sistema de gestión de calidad para laboratorios NMX-EC-17025-IMNC-2006/ISO-17025:2005” (30h), IIM-UNAM
“International Workshop on structure-property relations in inorganic compounds” (22h), Universidad de Guadalajara
“Estadística básica para el manejo de datos experimentales” (40h), IER-UNAM
“Refinamiento de estructuras cristalinas por el método Rietveld utilizando los códigos FULLPROF, TOPAS y BGMN” (85h), IF-UNAM
