2024
X Simposio Nacional y III Reunión Latinoamericana de Ingeniería de Superficies y Tribología
Querétaro. Qro. México del 7 al 11 de octubre
Evento Presencial y Gratuito
Caracterización de materiales por medio de refinamiento Rietveld
INSTRUCTOR: Dr. Claudio Aguilar Ramírez
Universidad Técnica Federico Santa María de Valparaíso Chile.
En este curso se proporcionarán los conceptos básicos de la Difracción de Rayos X y como realizar los análisis de los perfiles, para obtener información de los parámetros microestructurales de los materiales que son sometidos a su análisis mediante esta técnica de caracterización microestructural.
Se iniciará con temas como la simetría en la naturaleza, arte y cristales. Sistemas cristalinos, direcciones, planos, Perspectiva de los rayos X, producción de los rayos x, Difracción de rayos X, geometría del difractómetro, Ley de Bragg, factores que afectan la difracción de rayos X, determinación del parámetro de red, microdeformaciones, tamaño de cristalita, distribución del tamaño de cristalita, densidad de dislocaciones, energía de falla de apilamiento. Funciones de ajuste.
Este curso esta divido en 5 partes principales, este curso se abordarán temas como tratarán temas básicos referidos a la lubricación industrial. Se comentarán las principales características de los aceites lubricantes, en particular la viscosidad, nociones básicas de química orgánica, tipos de aceites base y clasificación de aceites en función de su origen.
El curso está dirigido a estudiantes de grado y posgrado de carreras afines a la ingeniería mecánica/industrial, no requiere de conocimientos previos.
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