Ciencia e Ingenieria de Vacio - REDISYT

Producción de fotoelectrones, identificación de picos, configuración electrónica de átomos, energías de enlace de átomos, moléculas y sólidos, energía cinética, espectros, proceso Auger, espectros de valencia, manuales, libros, sensibilidad superficial, camino libre medio inelástico, información de perfiles y resolución angular, manejo de muestras, acoplamiento espín-órbita, desplazamiento químico, ajuste de curvas mediante software, plasmones, desdoblamiento de multipletes, satélites. Terminología y normas.

Ánodo simple y doble, radiación de frenado (bremsstrahlung), satélites de rayos X, fuente monocromática, analizadores de energía de electrones, adquisición de espectros, resolución de energía, dispersión en analizadores, detectores de electrones, conteo de pulsos, detectores sensibles a la posición, análisis de áreas pequeñas, localización de áreas, imágenes XPS, método de imágenes, equipos y ejemplos, sistema de vacío, muestras, calibración de escala de energía.

Factores de sensibilidad, sección eficaz de ionización, parámetros de asimetría, ángulo mágico, función de transmisión del analizador, espectros de referencia, intensidades de pico (orbital), sustracción de fondo, medición de áreas de pico, uso de software para análisis cuantitativo, límite de detección, traslape de picos, incertidumbres, ejemplos.

Análisis de espectros para identificar de elementos, efecto de fuentes de rayos X, carga y su efecto en el análisis cualitativo, interpretación de desplazamiento químico, efectos de relajación del átomo, parámetro Auger, factores que afectan el ancho de pico de un orbital, formas de línea base, ajuste de curvas con diferentes formas de línea base, ajuste de curvas avanzado utilizando espectros de referencia, criterios de deconvolución real.

Métodos destructivos y no destructivos XPS con resolución angular (ARXPS), difracción, dispersión elástica de electrones, perfil elemental, determinar erosión iónica (sputter yield), calibración de profundidad en unidades métricas, ejemplos de métodos de procesamiento de datos para cuantificar en superposición de picos, cuantificar diferentes estados químicos y mejorar la relación señal-ruido en perfiles de profundidad por la erosión iónica.

Daños por rayos X, daño por erosión iónica, daño en UHV; efectos por carga y criterios para mejorar el análisis cuantitativo, guía mínima en deconvoluciones, métodos para el control de carga, picos fantasmas, resolución de picos y ruido. Relación de banda de valencia con densidad de estados electrónicos y explicación de trasferencia de carga.